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重庆哈丁科技有限公司
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2012-05-07
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TC405-Ⅱ
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中华人民共和国
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分析仪器
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上海市
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1 工作室尺寸 750×800×800 mm （深×宽×高） 2 提篮尺寸（约） 600×600×600 mm（深×宽×高） 3 高温室 高温室温度范围 室温～ +180℃ 升温速率 室温 ～ +180℃ ≤50min 4 低温室 低温室温度范围 -50℃～+85℃ 降温速率 室温到-50℃≤60min 5 提篮 温度冲击范围 -40 ～ +150℃ 温度波动度 ≤±0.5℃（空载、恒定状态时） 温度偏差 ≤±2℃（空载、恒定状态下，提篮内水平5点测试） 高温暴露 +150℃ 30 min 低温暴露 -40 30 min 样品转换时间 ≤5S 温度恢复时间 ≤5min 提篮承载 ≥20kg 温度冲击方式 由中央控制器自动控制提篮在低温箱或高温箱之间转换运动，分别与高温箱或低温箱形成闭路空气循环系统，迅速达到试验的目标温度。 6 安装功率 约26kW 7 满足标准 GJB150.3-86；GJB150.4-86； GJB150.5-86温度冲击试验； GB2324.22-89试验Na；GB2423.1-89试验A 低温试验方法；GB2423.2-89试验B 高温试验方法；GJB360.7-87温度冲击试验；GJB367.2-87温度冲击试验 8 测试方法 GB/T 5170 9 电 压 380V±10%； 50 Hz；三相四线+接地线 10污染、电磁辐射 符合相关标准要求 以上产品运行技术数据除温度恢复时间外均在室温25℃，相对湿度≤85%R.H，测试室空载条件下测得
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本系列产品是根据用户要求设计制造，广泛用于航空、航天、电子、IT行业、仪器仪表、电工产品等模拟试品在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验及对电子元器件的安全性测试提供可靠性试验、产品筛选等。
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上海半导体照明工程技术研究中心
机构介绍:
上海市半导体照明公共检测和评价中心主要通过整合和加强上海市在半导体照明领域内测试力量而建立的一个针对半导体照明产业的专业性测试中心，其具有基本适应半导体照明产业发展的检测评估，又具有在某些方面可跻身世界先进行业的技术新手段和能力。中心提供的测试、评估等多项服务促使产业的技术进步和产品应用，并通过参与制定一些行业技术规范和标准，使上海乃至长三角地区该产业能高速、健康发展。
资质能力：
