J750测试系统
- 制造厂商：Teradyne
- 购置日期：2014-02-14
- 型号：J750ex
- 生产国别：日本
- 仪器类别：电子测量仪器
- 安放地址：上海市
跨区域科技政策：
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上海
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- 仪器详情
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1：超大规模集成电路芯片的测试，包括package和晶圆测试，处理器芯片 2：大规模系统级芯片的测试，包含各种IP，如memory单元，高速模拟单元，射频单元，高速接口单元。 3：可以用于低成本晶圆级测试方案，降低产品测试成本
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（1）数字功能部分 1.时钟频率：100MHz 2.数字通道 :192， 每个通道具有独立的驱动电路、比较电路、动态负载机PPMU 3.基本数据速率 ：100MHz 4.向量存储深度 ：8M 5.扫描测试深度 ：最大提供共享96M或384M的扫描深度，并能提供最大32链每链32M深度的扫描能力 6.边沿定位精度 ：土325 ps 7.每周期内包含6个信号边沿，4个驱动，2个接收256个全局时间套，每通道具有32个独立的边沿套同时支持窗口采样与边沿采样 （2）模拟功能部分 1.MSO选件有4组差分任意波形发生器和4路差分数字化仪，每路有一个32位的DSP用于分析测量范围达到100db的SNR和THD 2.最高采样率： 输出100M次/秒，输入50M次/秒 3.绝对范围：≥14bit （-6V~+6V） 4.偏置范围：16bit （-5V~+5V） 5.动态范围：＞105db （3）DC测试性能 1.PPMU（per_pin parameter measurement unit） ： -2V~+7V ±2mA 分辨率200nA 2.BPMU (board parameter measurement unit) : ±24V(max) ±200mA（max） 分辨率：2uA 3.电压源分辨率/电压源量测分辨率： 2mV/2mV 4.电流源分辨率/电流 5.源量测分辨率：100nA/100pA
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