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集成电路老化测试系统

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制造厂商：
台湾讯利电业股份有限公司
购置日期：
2016-03-03
型号：
B1120M
生产国别：
台湾省
仪器类别：
工艺实验设备
安放地址：
上海市
用途：
暂无信息
应用领域：
暂无信息
主要技术指标：
Support Chip Types: Logic Product & Memory Product; Max.Number of Slots: 36 Pattern vector depth:128k Pattern channels: 96 Clock rate: 5MHz Voltage:DPS1=DPS2=10V VIH: 1.5-8V Power supply:DPS1=15A、DPS2=4.5A Chamber Temperature 25 ℃~150 ℃
功能：
用来做高温老化试验的。在高温老化试验中，首先要根据老化测试系统机台内部的接口，另外设计制作老化测试板，将要测试的集成电路芯片插在老化测试板上，再将老化测试板插入老化测试系统内部的接口中，老化测试系统内部接口可提供电压和信号，通过老化测试板供给芯片，同时让老化测试系统升温，让芯片在高温状态下工作。在一定的工作时间结束后取出集成电路芯片，再通过其他测试设备判断芯片是否损坏，从而判断集成电路芯片的寿命。
主要学科领域：
电子与通信技术
服务内容：
可靠性高温工作寿命试验
服务典型成果：
暂无信息
参考收费标准：
暂无信息
年总运行机时：
暂无信息
年对外服务机时：
暂无信息

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