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集成电路老化测试

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  • 仪器详情
  • 美国艾尔测试系统股份有限公司

  • 2017-01-06

  • ABTS-L36

  • 美国

  • 电子测量仪器

  • 上海市

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  • VIH: 1 ~ 6V;VIL=0V;VIH Groups 5 levels VIH setting for every 32 Channels;Overshoot/Undershoot 10% @BIB Load;Power Capability;Device Power Supply;DPS1=DPS2=18A;DPS3=DPS4=3A;DPS5=DPS6=9A;Power Driver Voltage;DPS1=DPS2=0.5~5V;DPS3=DPS4=1~12V;DPS5=DPS6=0.5~5V; Programmable Resolution 50mV

  • 在耐温老化试验中,首先要根据老化测试系统机台内部的接口,另外设计制作老化测试板,将要测试的集成电路芯片插在老化测试板上,再将老化测试板插入老化测试系统内部的接口中,老化测试系统内部接口可提供电压和信号,通过老化测试板供给芯片,同时让老化测试系统升温,让芯片在高温状态下工作。

  • 电子与通信技术,信息与系统科学相关工程与技术

  • 在耐温老化试验中,首先要根据老化测试系统机台内部的接口,另外设计制作老化测试板,将要测试的集成电路芯片插在老化测试板上,再将老化测试板插入老化测试系统内部的接口中,老化测试系统内部接口可提供电压和信号,通过老化测试板供给芯片,同时让老化测试系统升温,让芯片在高温状态下工作。

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上海北芯半导体科技有限公司

机构介绍:

上海北芯半导体科技有限公司在2013年成立于上海浦东张江高科技园区,拥有先进的半导体封装、测试、分析、验证等设备及经验丰富的工作团队,为IC设计公司、科研院所以及生产厂商提供快速且专业的芯片封装、主要包括Wafer\MPW\shuttle研磨、切割、裸die挑选、工程品快封(陶瓷快封和塑脂快封)可靠性RA测试、FIB、竞争力分析、SEM、CP测试等技术分析测试服务,目前(Y2018/01)拥有专利53项、ISO9001:2008/2015认证、CNAS(中国实验室认证)、集成电路公共研发服务平台等机构认证,在可靠的品质保证下,可以帮助客户节省更多的研发时间和成本,是一家专业的半导体集成电路芯片验证服务公司。

自实验室成立之日起,我们始终秉承“客户至上”的理念,坚持以严谨的态度追求创新,以专业的素养服务客户,以诚信的经营造就品牌,同时我们也深知,服务时效性以及工程质量发展的决定性因素,我们有着充满活力且经验丰富的工作团队,加之整个团队对工作的执行力以及无比敬业的精神,将为您提供专业、严谨、快速、高品质的服务。



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