半导体参数测试系统
- 制造厂商：美国Keithley公司
- 购置日期：2019-03-04
- 型号：4200
- 生产国别：美国
- 仪器类别：物理性能测试仪器
- 安放地址：浙江省
跨区域科技政策：
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- 仪器详情
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用于半导体参数及器件特性测试
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暂无信息
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暂无信息
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1. 普通IV 测量 0.1 fA~100 mA; 1μV~200 V, 4 SMU Unit)2. 普通CV测量 3. 四点探针测量 4. Hall 效应测量5. 高电阻测量功能 6. 脉冲 IV 测量 7. 脉冲CV
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材料科学
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分析检测、技术咨询
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服务于半导体材料的特性研究
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50 (元/样品)
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1260
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87
