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椭偏测量与分析

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  • 二氧化硅薄膜测量¥200.00
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M2000XF以其旋转补偿专利技术配合高速CCD探测技术,在同类产品中测量速度最快,并获得超高的快速测量准确性和重复性,结合先进光学设计及强大的软件功能,使其成为一款功能强大的通用测量工具。

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睿励科学仪器(上海)有限公司

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